ಕಿರಣದ ಗುಣಮಟ್ಟದ ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಬಳಸುವ ವ್ಯಾಖ್ಯಾನವು ದೂರದ-ಕ್ಷೇತ್ರದ ಸ್ಪಾಟ್ ತ್ರಿಜ್ಯ, ದೂರದ-ಕ್ಷೇತ್ರದ ಡೈವರ್ಜೆನ್ಸ್ ಅನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿದೆ angle, ವಿವರ್ತನೆ ಮಿತಿ ಬಹು U, ಸ್ಟ್ರೆಎಚ್ಎಲ್ ಅನುಪಾತ, ಅಂಶ M2 , ಪವರ್ ಆನ್ ಗುರಿ ಮೇಲ್ಮೈ ಅಥವಾ ಲೂಪ್ ಶಕ್ತಿಯ ಅನುಪಾತ, ಇತ್ಯಾದಿ.

ಕಿರಣದ ಗುಣಮಟ್ಟವು ಲೇಸರ್ನ ಪ್ರಮುಖ ನಿಯತಾಂಕವಾಗಿದೆ. ಕಿರಣದ ಗುಣಮಟ್ಟದ ಎರಡು ಸಾಮಾನ್ಯ ಅಭಿವ್ಯಕ್ತಿಗಳುಬಿಪಿಪಿ ಮತ್ತು M2 ಯಾವುದು ಒಂದೇ ಭೌತಿಕ ಪರಿಕಲ್ಪನೆಯ ಆಧಾರದ ಮೇಲೆ ಪಡೆಯಲಾಗಿದೆ ಮತ್ತು ಪರಿವರ್ತಿಸಬಹುದು ಪರಸ್ಪರ. ಲೇಸರ್ ಕಿರಣದ ಗುಣಮಟ್ಟವು ಮುಖ್ಯವಾಗಿದೆ ಏಕೆಂದರೆ ಲೇಸರ್ ಉತ್ತಮವಾಗಿದೆಯೇ ಅಥವಾ ಇಲ್ಲವೇ ಮತ್ತು ಇಲ್ಲವೇ ಎಂಬುದನ್ನು ನಿರ್ಣಯಿಸಲು ಇದು ಪ್ರಮುಖ ಭೌತಿಕ ಪ್ರಮಾಣವಾಗಿದೆ. ದಿ ನಿಖರವಾದ ಸಂಸ್ಕರಣೆಯನ್ನು ಕೈಗೊಳ್ಳಬಹುದು. ಅನೇಕ ರೀತಿಯ ಸಿಂಗಲ್-ಮೋಡ್ ಔಟ್‌ಪುಟ್ ಲೇಸರ್‌ಗಳಿಗೆ, ಉತ್ತಮ-ಗುಣಮಟ್ಟದ ಲೇಸರ್‌ಗಳು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಹೆಚ್ಚಿನ ಕಿರಣದ ಗುಣಮಟ್ಟವನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತವೆ, ಇದು ಚಿಕ್ಕದಕ್ಕೆ ಅನುಗುಣವಾಗಿರುತ್ತದೆ.M2, ಉದಾಹರಣೆಗೆ 1.05 ಅಥವಾ 1.1. ಇದಲ್ಲದೆ, ಲೇಸರ್ ತನ್ನ ಸೇವಾ ಜೀವನದುದ್ದಕ್ಕೂ ಉತ್ತಮ ಕಿರಣದ ಗುಣಮಟ್ಟವನ್ನು ಕಾಪಾಡಿಕೊಳ್ಳಬಹುದು, ಮತ್ತುM2 ಮೌಲ್ಯವು ಬಹುತೇಕ ಬದಲಾಗಿಲ್ಲ. ಲೇಸರ್ ನಿಖರವಾದ ಯಂತ್ರಕ್ಕಾಗಿ, ಉತ್ತಮ ಗುಣಮಟ್ಟದಕಿರಣ ತಲಾಧಾರಕ್ಕೆ ಹಾನಿಯಾಗದಂತೆ ಮತ್ತು ಉಷ್ಣ ಪರಿಣಾಮವಿಲ್ಲದೆಯೇ ಫ್ಲಾಟ್ ಟಾಪ್ ಲೇಸರ್ ಯಂತ್ರವನ್ನು ಕೈಗೊಳ್ಳಲು, ರೂಪಿಸಲು ಹೆಚ್ಚು ಅನುಕೂಲಕರವಾಗಿದೆ. ಆಚರಣೆಯಲ್ಲಿ,M2 ಇದನ್ನು ಹೆಚ್ಚಾಗಿ ಘನ ಮತ್ತು ಅನಿಲ ಲೇಸರ್‌ಗಳಿಗೆ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ ಬಿಪಿಪಿ ಲೇಸರ್‌ಗಳ ವಿಶೇಷಣಗಳನ್ನು ಲೇಬಲ್ ಮಾಡುವಾಗ ಫೈಬರ್ ಲೇಸರ್‌ಗಳಿಗೆ ಹೆಚ್ಚಾಗಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ.

ಲೇಸರ್ ಕಿರಣದ ಗುಣಮಟ್ಟವನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಎರಡು ನಿಯತಾಂಕಗಳಿಂದ ವ್ಯಕ್ತಪಡಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ: ಬಿಪಿಪಿ ಮತ್ತು M². M²ಎಂದು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಬರೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ M2. ಕೆಳಗಿನ ಚಿತ್ರವು ಗಾಸಿಯನ್ ಕಿರಣದ ಉದ್ದದ ವಿತರಣೆಯನ್ನು ತೋರಿಸುತ್ತದೆ, ಅಲ್ಲಿW ಕಿರಣದ ಸೊಂಟದ ತ್ರಿಜ್ಯ ಮತ್ತು θ ದೂರದ-ಕ್ಷೇತ್ರದ ಡೈವರ್ಜೆನ್ಸ್ ಅರ್ಧವಾಗಿದೆ angle.

BPP ಯ ಪರಿವರ್ತನೆ ಮತ್ತು M2

ಬಿಪಿಪಿ (ಬೀಮ್ ಪ್ಯಾರಾಮೀಟರ್ ಉತ್ಪನ್ನ) ಸೊಂಟದ ತ್ರಿಜ್ಯ ಎಂದು ವ್ಯಾಖ್ಯಾನಿಸಲಾಗಿದೆ W ಗುಣಿಸಿದಾಗ ದೂರದ ಕ್ಷೇತ್ರ ಭಿನ್ನತೆ ಅರ್ಧ angle θ:

         BPP = W × θ

ದಿ ದೂರದ ಕ್ಷೇತ್ರ ಭಿನ್ನತೆ ಅರ್ಧ angle θ ಗಾಸಿಯನ್ ಕಿರಣವು:

        θ₀ = λ / πW₀

M² ಮೂಲಭೂತ ಮೋಡ್ ಗಾಸಿಯನ್ ಕಿರಣದ ಕಿರಣದ ನಿಯತಾಂಕ ಉತ್ಪನ್ನಕ್ಕೆ ಕಿರಣದ ನಿಯತಾಂಕ ಉತ್ಪನ್ನದ ಅನುಪಾತವಾಗಿದೆ:

        M² =（W×θ）/（W₀×θ₀）= BPP /（λ / π）

ಮೇಲಿನ ಸೂತ್ರದಿಂದ ಕಂಡುಹಿಡಿಯುವುದು ಕಷ್ಟವೇನಲ್ಲ ಬಿಪಿಪಿ ತರಂಗಾಂತರದಿಂದ ಸ್ವತಂತ್ರವಾಗಿದೆ M² ಲೇಸರ್ ತರಂಗಾಂತರಕ್ಕೂ ಸಂಬಂಧಿಸಿಲ್ಲ. ಅವು ಮುಖ್ಯವಾಗಿ ಲೇಸರ್‌ನ ಕುಹರದ ವಿನ್ಯಾಸ ಮತ್ತು ಜೋಡಣೆಯ ನಿಖರತೆಗೆ ಸಂಬಂಧಿಸಿವೆ.

ನ ಮೌಲ್ಯ M² ನೈಜ ಡೇಟಾ ಮತ್ತು ಆದರ್ಶ ಡೇಟಾದ ನಡುವಿನ ಅನುಪಾತವನ್ನು ಸೂಚಿಸುವ 1 ಕ್ಕೆ ಅನಂತ ಹತ್ತಿರದಲ್ಲಿದೆ. ನೈಜ ಡೇಟಾವು ಆದರ್ಶ ಡೇಟಾಕ್ಕೆ ಹತ್ತಿರದಲ್ಲಿದ್ದಾಗ, ಕಿರಣದ ಗುಣಮಟ್ಟವು ಉತ್ತಮವಾಗಿರುತ್ತದೆ, ಅಂದರೆ ಯಾವಾಗM² 1 ಕ್ಕೆ ಹತ್ತಿರದಲ್ಲಿದೆ, ಅನುಗುಣವಾದ ಡೈವರ್ಜೆನ್ಸ್ ಕೋನವು ಚಿಕ್ಕದಾಗಿದೆ ಮತ್ತು ಕಿರಣದ ಗುಣಮಟ್ಟವು ಉತ್ತಮವಾಗಿರುತ್ತದೆ.

ಮಾಪನ ಬಿಪಿಪಿ ಮತ್ತು M2
ಕಿರಣದ ಗುಣಮಟ್ಟವನ್ನು ಅಳೆಯಲು ಬೀಮ್ ಗುಣಮಟ್ಟದ ವಿಶ್ಲೇಷಕವನ್ನು ಬಳಸಬಹುದು. ಸಂಕೀರ್ಣ ಕಾರ್ಯಾಚರಣೆಯೊಂದಿಗೆ ಬೆಳಕಿನ ವಿಶ್ಲೇಷಕವನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಕಿರಣದ ಗುಣಮಟ್ಟವನ್ನು ಅಳೆಯಬಹುದು. ಲೇಸರ್ ಅಡ್ಡ ವಿಭಾಗದ ವಿವಿಧ ಸ್ಥಳಗಳಿಂದ ಡೇಟಾವನ್ನು ಸಂಗ್ರಹಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ನಂತರ ಉತ್ಪಾದಿಸಲು ಬಿಲ್ಟ್-ಇನ್ ಪ್ರೋಗ್ರಾಂ ಮೂಲಕ ಸಂಶ್ಲೇಷಿಸಲಾಗುತ್ತದೆM2. M2 ಮಾದರಿಯ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯಲ್ಲಿ ತಪ್ಪು ಕಾರ್ಯಾಚರಣೆ ಅಥವಾ ಮಾಪನ ದೋಷ ಇದ್ದಲ್ಲಿ ಅಳೆಯಲಾಗುವುದಿಲ್ಲ. ಹೆಚ್ಚಿನ ಶಕ್ತಿಯ ಮಾಪನಗಳಿಗಾಗಿ, ಲೇಸರ್ ಶಕ್ತಿಯನ್ನು ಅಳೆಯಬಹುದಾದ ವ್ಯಾಪ್ತಿಯಲ್ಲಿ ಇರಿಸಿಕೊಳ್ಳಲು ಮತ್ತು ಉಪಕರಣ ಪತ್ತೆ ಮೇಲ್ಮೈಗೆ ಯಾವುದೇ ಹಾನಿಯಾಗದಂತೆ ಅತ್ಯಾಧುನಿಕ ಅಟೆನ್ಯೂಯೇಶನ್ ಸಿಸ್ಟಮ್ ಅಗತ್ಯವಿದೆ.

ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಫೈಬರ್ ಕೋರ್ ಮತ್ತು ಸಂಖ್ಯಾತ್ಮಕ ದ್ಯುತಿರಂಧ್ರವನ್ನು ಮೇಲಿನ ಚಿತ್ರದ ಪ್ರಕಾರ ಅಂದಾಜು ಮಾಡಬಹುದು. ಫೈಬರ್ ಲೇಸರ್‌ಗಳಿಗೆ, ಸೊಂಟದ ತ್ರಿಜ್ಯ ω₀= ಫೈಬರ್ ಕೋರ್ ವ್ಯಾಸ /2 = R, θ = ಪಾಪα =α= ಎನ್ / ಎ (ಫೈಬರ್ ನ ಸಂಖ್ಯಾತ್ಮಕ ದ್ಯುತಿರಂಧ್ರ).

BPP ಯ ಸಾರಾಂಶ, M2, ಮತ್ತು Beam Qವಾಸ್ತವಿಕತೆ

ಚಿಕ್ಕ ಬಿಪಿಪಿ, ಉತ್ತಮ ಲೇಸರ್ ಕಿರಣದ ಗುಣಮಟ್ಟ.

1.08 ಕ್ಕೆµಮೀ ಫೈಬರ್ ಲೇಸರ್, M2 = 1, ಬಿಪಿಪಿ = λ / π = 0.344 ಮಿ.ಮೀ ಶ್ರೀಜಾಹೀರಾತು

10 ಕ್ಕೆ.6µm CO₂ ಲೇಸರ್ಗಳು, ಒಂದೇ ಮೂಲಭೂತ ಮೋಡ್ M2 = 1, ಬಿಪಿಪಿ = 3.38 ಮಿಮೀ ಶ್ರೀಜಾಹೀರಾತು

ಎರಡು ಏಕಗಳ ಡೈವರ್ಜೆನ್ಸ್ ಕೋನಗಳು ಎಂದು ಊಹಿಸಿ ಮೂಲಭೂತ ಮೋಡ್ ಲೇಸರ್ಗಳು (ಅಥವಾ ಬಹು-ಮೋಡ್ ಅದೇ ಜೊತೆ ಲೇಸರ್ಗಳು M2) ಕೇಂದ್ರೀಕರಿಸಿದ ನಂತರ ಒಂದೇ ಆಗಿರುತ್ತದೆ, CO ನ ಫೋಕಲ್ ವ್ಯಾಸ₂ ಲೇಸರ್ ಫೈಬರ್ ಲೇಸರ್ಗಿಂತ 10 ಪಟ್ಟು ಹೆಚ್ಚು.

ಹತ್ತಿರ M2 1 ಆಗಿದೆ, ಲೇಸರ್ ಕಿರಣದ ಗುಣಮಟ್ಟ ಉತ್ತಮವಾಗಿರುತ್ತದೆ.

ಲೇಸರ್ ಕಿರಣವು ಒಳಗಿರುವಾಗ Gಆಸಿಯನ್ ವಿತರಣೆ ಅಥವಾ ಗಾಸಿಯನ್ ವಿತರಣೆಯ ಹತ್ತಿರ, ಹತ್ತಿರ M2 1 ಗೆ, ನಿಜವಾದ ಲೇಸರ್ ಆದರ್ಶ ಗಾಸಿಯನ್ ಲೇಸರ್‌ಗೆ ಹತ್ತಿರವಾಗಿದೆ, ಕಿರಣದ ಗುಣಮಟ್ಟ ಉತ್ತಮವಾಗಿರುತ್ತದೆ.